BMM-100 DIC Differential Interference Digital Metallography Microscope เป็นเครื่องมือออปติคัลที่มีประสิทธิภาพในการตรวจสอบสูงมาก ใช้ระบบการถ่ายภาพแบบออปติคัลอินฟินิตี้ที่ยอดเยี่ยมพร้อมด้วยหลอดไฟ LED ความสว่างสูงในตัวเพื่อแนะนำฟังก์ชั่นการสังเกตการณ์ด้วยกล้องจุลทรรศน์แบบแทรกแซง หัวสังเกตการณ์การถ่ายภาพสองตาซึ่งสะท้อนให้เห็นถึงการลดทอนความเป็นจริงของการสังเกตภาพและการผสมผสานทางเทคนิคของการถ่ายภาพดิจิตอลและการถ่ายภาพด้วยกล้องจุลทรรศน์ ภาพแทรกแซงที่สังเกตได้มีความรู้สึกสามมิติที่แข็งแกร่งขึ้นเหมาะสำหรับการสังเกตสัณฐานวิทยาพื้นผิวของวัสดุที่ไม่โปร่งใสเช่น micromorphs ของอนุภาคนำไฟฟ้าของหน้าจอผลึกเหลว เป็นเครื่องมือที่เหมาะสำหรับการตรวจสอบคุณภาพการวิจัยโครงสร้างในด้านการผลิต
ลักษณะการทำงาน
★ผลิตภัณฑ์ใช้ระบบการถ่ายภาพแบบออฟติคัลอินฟินิตี้ 5X, 10X, 20X และระยะการทำงานระยะไกลอื่น ๆ ของสนามแบน achromatic ไม่มีเลนส์ความเครียดสามารถเลือกได้จับคู่กับการแทรกแซงดิฟเฟอเรนเชียลที่สอดคล้องกัน (ปลั๊ก DIC) สำหรับการสังเกตด้วยกล้องจุลทรรศน์ที่มีอัตราส่วนที่แตกต่างกัน
★ระบบแสงสว่างใช้อุปกรณ์ LED ที่มีความสว่างสูงและเวลาทำงานนาน มีโครงสร้างที่กะทัดรัดและใช้งานง่าย เหมาะอย่างยิ่งสำหรับความต้องการด้านสิ่งแวดล้อมของการตรวจจับออนไลน์
★ใช้วิธีการปรับความสูงแบบคอลัมน์ช่วงความหนาของตัวอย่างที่สังเกตมีขนาดใหญ่ขึ้น

การกำหนดค่ามาตรฐาน